Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz
  • Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz
  • Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz
  • Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz
  • Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz
  • Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz

Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz

3 заказа
154 руб.

Описание

Монокристаллическая Кремниевая пластина (односторонняя полировка)
Особенности:Монокристаллическая подложка из кремния высокой чистоты si, тип N/P опционально, удельное сопротивление 0,0001-100 Ом, опционально
Роста режим:Straight без застежки
С украшением в виде кристаллов направленности:[111]/[100]
Это действительно плоский экран:<1 микрон (измеренная общая warpage)
Область применения:1. PVD/CVD покрытие как подложка
2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный спектральный анализ тестовая подложка, AFM (атомный силовой микроскоп)
3. Синхротронное излучение тест-носитель образца
4. Молекулярный пучок эпитаксиальный рост подложки
5. Полупроводниковый процесс литографии и т. Д.
Классификация:Одиночный бросок 3 × 3 мм; Одиночный бросок 5 × 5 мм; Одиночный бросок 8 × 8 мм;
Одиночный бросок 10 × 10 мм; Одиночный бросок 5 × 15 мм; Одиночный бросок 10 × 20 мм;
Одиночный бросок 15 × 15 мм; Одиночный бросок 20 × 20 мм; Одиночный бросок 23 × 23 мм;
Одиночный бросок 30 × 30 мм; Одиночный бросок 40 × 40 мм; Одиночный бросок 50 × 50 мм;
Одиночный бросок 10 × 15 мм; Одиночный бросок 5 × 30 мм.
Примечание: Другое различных размеровМогут быть выполнены по индивидуальному заказу.

Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot sizОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot sizОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot sizОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot sizОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot sizОдносторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz

На нашем веб-сайте мы уделили максимальное внимание деталям, связанным с товаром под названием «Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz». Здесь вы найдете всю актуальную информацию, которая поможет вам полностью ознакомиться с этим продуктом. Мы понимаем, что осознанный выбор требует доступа ко всей необходимой информации, поэтому мы предоставляем вам:

Актуальные цены: Мы всегда обновляем цены, чтобы вы могли быть уверены в том, что получаете лучшее предложение на «Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz».

Высококачественные фотографии: Наши фотографии предоставляют вам возможность приблизиться к продукту и рассмотреть его в деталях, словно вы держите его в руках.

Подробные видеообзоры: Мы предоставляем видеообзоры, чтобы вы могли увидеть «Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz» в действии и оценить его функциональность.

Полное описание: Мы детально описываем все особенности и преимущества «Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz», чтобы вы точно знали, что ожидать от этого продукта.

Технические характеристики: Наши технические характеристики помогут вам понять, какие возможности предоставляет «Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz» и как он соотносится с вашими потребностями.

Наша главная цель - обеспечить вас всей необходимой информацией, чтобы вы могли сделать осознанный выбор. Мы призываем вас внимательно ознакомиться с подробной страницей товара «Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz», чтобы полностью понять все возможности, которые он предоставляет. Мы стремимся предоставить вам полную картину, чтобы помочь вам принять обоснованное решение, основанное на фактах и деталях. Не упустите эту ценную возможность получить всю необходимую информацию о «Односторонняя полировка экспериментальные исследования высокой чистоты небольшой квадратный кусок SEM один кристалл кремния Вафля мульти-размер spot siz» и принять решение, которое будет наилучшим для вас.

Артикул товара: 32955780155

Характеристики

Номер модели
SEM single crystal silicon wafer
Габаритные размеры
SEM single crystal silicon wafer
Стандартный
GB
Наличие стандарта
Стандарт
Материал
Другое